伟测科技：高良率并不意味着零缺陷，而测试可以检测芯片缺陷以及各项性能

伟测科技回应投资者关切：即使芯片良率高达95%以上，仍需测试保障品质

据最新消息，伟测科技在近日的一次投资者关系平台上，就投资者关心的问题给出了明确答复。有投资者提出假设一家企业生产的芯片良率已经达到非常高的水平，如95%以上，那么这家企业未来是否还需要依赖伟测科技的测试服务。对此，伟测科技的董秘作出了解释。

董秘指出，尽管芯片良率非常高，但这并不意味着每一颗芯片都是完美的。任何产品都可能存在潜在缺陷，尤其是在复杂的集成电路产品领域。即便先前良率已经非常高，但随着技术的更新换代，产品的良率也可能出现波动。为了确保每一颗芯片的品质和性能，测试仍然是必不可少的环节。一颗失效的芯片可能带来的损失远大于测试的成本。

伟测科技作为第三方测试服务提供商，具备强大的自研测试技术、先进的设备和高效的服务体系。它能够为客户提供定制化的服务，帮助检测芯片的潜在缺陷和性能问题，从而改善芯片设计、制造和封装过程中的潜在风险。无论是高良率的芯片还是新推出的产品，伟测科技的测试服务都能确保芯片的品质和性能达到最佳状态。

即便芯片制造商的良率再高，他们仍然需要像伟测科技这样的专业测试机构来确保产品的质量和性能。伟测科技将继续致力于为全球客户提供高质量、可靠的测试服务，为芯片行业的发展贡献力量。

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